是種體現X射線熒光分析新展的能量色散X射線熒光光譜儀。它采用低率小型X光管為激發源，電制冷硅半導體探測器為探測單元，再加上我公司門開發的應用軟件，充分發揮各件的優異性能，保證了整臺儀器的分辨率及通用適應性。何需要多元素同時分析的地方，正是它大有作為之處。

儀器檢測能力強，分辨率，適用于各行業對不同元素行無損檢測。在不同作環境下分析范圍從Al（13號元素）到U（92號元素）。無損分析迅速，制樣，測試時間從幾秒到幾分鐘可調。檢測度從PPM別到千分之別。

強勢能

1. 基本參數法對從鋁（13號元素）至鈾（92號元素）定性分析測量。

2．包裹樣品檢測辨別系統。

3．樣品室清成像定位系統，方便微小樣品定位測量。

4．電制冷與內雙向循環冷卻恒溫系統相結合，維持內作環境穩定。

5. 內動力學風道，快速排出多余熱量。

6．雙峰位快速自動校準。

7．雙箱體結構，抗干擾能力強且方便硬件升。

8．儀器作方法意開發。

9. 定量分析：包括經驗系數法，理論a系數法和基本參數法。

10.定性分析：包括Kl譜線標記法，譜圖法，光標自動尋峰等。

11.測試報表根據客戶要求立。

12.溫度系數：溫度變化1度，電壓變化不過0.01%
13.穩定性：經過半個小時預熱后，每8小時變化不過0.05%
14.準直器：使用殊的濾波片自動更換，提能區的峰背比。
15.彩色液晶顯示屏
16.自主研發的數字集成新型放大器，提降噪比。