是種體現X射線熒光分析新展的能量色散X射線熒光光譜儀。它采用低率小型X光管為激發源,電制冷硅半導體探測器為探測單元,再加上我公司門開發的應用軟件,充分發揮各件的優異性能,保證了整臺儀器的分辨率及通用適應性。何需要多元素同時分析的地方,正是它大有作為之處。
儀器檢測能力強,分辨率,適用于各行業對不同元素行無損檢測。在不同作環境下分析范圍從Al(13號元素)到U(92號元素)。無損分析迅速,制樣,測試時間從幾秒到幾分鐘可調。檢測度從PPM別到千分之別。
強勢能
1. 基本參數法對從鋁(13號元素)至鈾(92號元素)定性分析測量。
2.包裹樣品檢測辨別系統。
3.樣品室清成像定位系統,方便微小樣品定位測量。
4.電制冷與內雙向循環冷卻恒溫系統相結合,維持內作環境穩定。
5. 內動力學風道,快速排出多余熱量。
6.雙峰位快速自動校準。
7.雙箱體結構,抗干擾能力強且方便硬件升。
8.儀器作方法意開發。
9. 定量分析:包括經驗系數法,理論a系數法和基本參數法。
10.定性分析:包括Kl譜線標記法,譜圖法,光標自動尋峰等。
11.測試報表根據客戶要求立。
12.溫度系數:溫度變化1度,電壓變化不過0.01%
13.穩定性:經過半個小時預熱后,每8小時變化不過0.05%
14.準直器:使用殊的濾波片自動更換,提能區的峰背比。
15.彩色液晶顯示屏
16.自主研發的數字集成新型放大器,提降噪比。
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