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克爾效應實驗系統

簡要描述:表面磁光克爾效應實驗系統 型號;MHY-23030

在 1845年,Michael Faraday發現了磁光效應,他發現當外加磁場加在玻璃樣品上時,透射光的偏振面將發生旋轉的效應,隨后他在外加磁場之金屬表面上做光反射的實驗,但由于他所謂的表面并不夠平整,因而實驗結果不能使人信服。1877年John Kerr在觀察偏振化光從拋光過的電磁鐵磁反射出來時,發現了磁光克爾效應(magn

  • 產品型號:MHY-23030
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2024-07-13
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表面磁光克爾效應實驗系統       型號;MHY-23030

在 1845年,Michael Faraday發現了磁光效應,他發現當外加磁場加在玻璃樣品上時,透射光的偏振面將發生旋轉的效應,隨后他在外加磁場之金屬表面上做光反射的實驗,但由于他所謂的表面并不夠平整,因而實驗結果不能使人信服。1877年John Kerr在觀察偏振化光從拋光過的電磁鐵磁反射出來時,發現了磁光克爾效應(magneto-optic Kerr effect)。1985年Moog和Bader兩位學者行鐵薄膜磊晶成長在金單晶(100)面上的磁光克爾效應量做實驗,成地得到原子層厚度磁性物質之磁滯回線,并且提出了以SMOKE來作為表面磁光克爾效應 (surface magneto-optic Kerr effect)的縮寫,用以表示應用磁光克爾效應在表面磁學上的研究。由于此方法之磁性解析靈敏度達原子層厚度,且儀器配置合于真空系統之作,因而成為表面磁學的重要研究方法。 

表面磁光克爾效應實驗系統  

它在磁性薄膜的磁有序、磁各向異性、層間耦合和磁性薄膜的相變行為等方面的研究中都有重要應用。應用該系統可以自動掃描磁性樣品的磁滯回線,從而獲得薄膜樣品矯頑力、磁各異性等方面的信息。另外,該系統可以和真空系統相連,對磁性薄膜和薄膜行原位測量。 

儀器主要參數: 

1.半導體激光器 波長 650nm 輸出率 2mW 

2.偏振棱鏡 格蘭-湯普遜棱鏡 通光孔徑 8mm 消光比10 -5 主透射比90% 

3.電磁磁鐵 中心大磁感應強度0.3T 磁間隙 30mm 

4.恒電源 大電壓 38V 大輸出電 10A 

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