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表面磁光克爾效應實驗系統 型號；MHY-23030
在 1845年，Michael Faraday發現了磁光效應，他發現當外加磁場加在玻璃樣品上時，透射光的偏振面將發生旋轉的效應，隨后他在外加磁場之金屬表面上做光反射的實驗，但由于他所謂的表面并不夠平整，因而實驗結果不能使人信服。1877年John Kerr在觀察偏振化光從拋光過的電磁鐵磁反射出來時，發現了磁光克爾效應(magneto-optic Kerr effect)。1985年Moog和Bader兩位學者行鐵薄膜磊晶成長在金單晶(100)面上的磁光克爾效應量做實驗，成地得到原子層厚度磁性物質之磁滯回線，并且提出了以SMOKE來作為表面磁光克爾效應 (surface magneto-optic Kerr effect)的縮寫，用以表示應用磁光克爾效應在表面磁學上的研究。由于此方法之磁性解析靈敏度達原子層厚度，且儀器配置合于真空系統之作，因而成為表面磁學的重要研究方法。
表面磁光克爾效應實驗系統
它在磁性薄膜的磁有序、磁各向異性、層間耦合和磁性薄膜的相變行為等方面的研究中都有重要應用。應用該系統可以自動掃描磁性樣品的磁滯回線，從而獲得薄膜樣品矯頑力、磁各異性等方面的信息。另外，該系統可以和真空系統相連，對磁性薄膜和薄膜行原位測量。
儀器主要參數：
1．半導體激光器 波長 650nm 輸出率 2mW
2．偏振棱鏡 格蘭－湯普遜棱鏡 通光孔徑 8mm 消光比10 －5 主透射比90％
3．電磁磁鐵 中心大磁感應強度0.3T 磁間隙 30mm
4．恒電源 大電壓 38V 大輸出電 10A
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